超高分辨率扫描电子显微镜 (SEM) Regulus8230

资产编号

MC-NA-0002

型号

Regulus8230

所属品牌

HITACHI

资产负责人

陈海滨 Haibin CHEN

联系邮箱

chenhb@hkust-gz.edu.cn

放置地点

W2-123

主要规格&技术指标

1. 冷场发射电子枪;

2. 分辨率:0.6nm@15kV ,0.7nm@1kV;

3. 放大倍率: 20 ~ 2,000,000x;

4. 加速电压: 0.5 ~ 30 kV;

5. 着落电压:0.01 ~ 20 kV;

6. 样品台:6 英寸样品预抽室; 110×110mm 5轴马达驱动(XY: 0 ~110mm; Z: 1.5~40mm; R: 360o; T: - 5 ~ 70o);

7. 元素分析仪:Oxford AZtecLive UltimMax 170;


主要功能及特色

1. Hitachi Regulus 系列在极低加速电压至高加速电压的宽泛条件下,均可实现高分辨观察和分析。可用于材料的高分辨形貌,显微组织,晶体结构,化学成分等分析。适用于各种材料和结构,包括金属,陶瓷,高分子,纳米线,电子器件等;

2. 配备高位,顶位,低位三个探测器,可以满足各种观察需求的衬度图像;

3. 通过与大窗口面积EDX探测器联用,在低加速电压条件下实现高通量,高空间分辨率的元素分布图;

4. 可以选用减速功能,对不导电材料,比如软材料,进行观察。