X 射线分析

主要规格&技术指标

1. 光电耦合物镜探测器，物镜0.4X的最大三维视野50mm；物镜40X最高空间分辨率500nm。

2. X射线源最高工作电压160kV，最大功率10W。

3. 最大可测样品尺寸φ300mm×450mm。

4. 原位测试力值最大5KN，轴向位移最大10mm，轴向位移速度0.1mm/min -1mm/min。

5. 原位拉伸试验台的温度范围 -20℃ ~+160℃。

主要功能及特色

1. 利用X射线穿透样品，探测器收集不同吸收信号，实现X射线全场成像

2. 可以对材料内部结构无损测试，并进行三维重构和切片表征

3. 复合材料、多孔材料、建筑材料、岩石三维孔隙结构、特征提取和定量分析与统计分布

4. 增材制造、金属、陶瓷内部缺陷检测；生成三维网格模型用于数值模拟计算或3D打印；电池、芯片、热电材料的失效分析

5. 纤维材料的取向分析；动植物组织学成像分析；材料拉伸或压缩断裂行为和加热试验的原位表征。

样本检测注意事项

设备属于II类射线装置，按法规要求只容许已登记辐射工作人员操作，因此只接受送样测试，如有特别需要请联系管理员