X 射线分析

主要规格&技术指标

1. Cu 靶高亮度微焦斑点光源 (30W - 50kV / 0.6 mA)

2. Eiger 2R 1M DECTRIS 探测器

3. 检测器台座: 样品到探测器 45-4500mm; q_min ≤ 0.01 nm-1, q_max ≥ 49 nm-1

4. 光斑大小在0.15mm~2.4mm范围内实时、连续、自动改变，精度0.001 mm

5. 样品腔可进行真空、空气/气氛环境测试，入射及反射光路均处于真空

6. 27样品位毛细管样品架, 25样品位固体样品架, 15样品位粉末样品架, 8 个样本的凝胶样品架:

7. 高级全功能掠入射测试组件(GI-W/SAXS)

8. 高温样品台: -150°C 至 350°C

9. 拉伸台: 0-20N, 分辨率=0.001N; 0-200N, 分辨率=0.01N

主要功能及特色

1. 适用于固体（如：粉末，薄膜、块体）、液体（如：胶体、溶液）等各类样品。可以测定散射体分散性、尺寸分布、平均尺寸、体积分数、比表面积、孔隙度、粒子形状、平均壁厚、界面层平均厚度，纳米尺度的周期性结构分析、散射体分形特征，以及材料结晶性、取向及相变分析。

2. 高亮度、高准直X射线，可快速采集、实时观测结果；入射光、散射光处于真空中，有效避免空气散射；获得原子级 500 nm 尺度结构信息；可进行变温、拉伸的原位测试；可实现薄膜样品在超高真空下的GI-W/SAXS测试