椭偏仪

资产编号

MC-MS-0004

型号

J.A.Woollam RC2

所属品牌

J.A.Woollam

资产负责人

孙成军 Chengjun SUN

放置地点

W2-129

主要规格&技术指标

1. 光谱范围193-1690nm; 

2. 自动变角基座:45-90°; 

3. Z轴:自动移动,最大行程18mm,最小步长1um;

4. 光斑尺寸:普通光斑4mm直径,微光斑300um直径;

5. 测量参数包括:分光椭偏Ψ和Δ;透射及反射强度百分比;退偏振百分比;广义椭偏;穆勒矩阵; 

6. 全穆勒矩阵测量达到0.3秒;

7. 测试准确性:Psi 45°±0.02°,Delta 0°±0.05°,Depolarization 0%±0.5%,15 normalized Muller-Matrix elements, Diagonal 1±0.002,Off-Diagonal 0±0.002.


主要功能及特色

1. 宽的光谱范围,覆盖深紫外到近红外193-1690nm;

2. 能够采集穆勒矩阵全部16个元;

3. 配备聚焦件可测量微小样品; 

4. 测试准确性高,重复性好;

5. 软件材料库全、色散模型多,功能齐全;

6. 通过测量偏振光经过样品表面反射后偏振态的改变,基于光学模型的数据分析,可获得薄膜厚度和光学常数等参数;

7. 自动样品台可实现Mapping功能。